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  菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

  菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希爾臺(tái)式測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHER代理，菲希爾鍍層測(cè)厚儀

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  Fischer DualScope DMP20雙功能涂層測(cè)厚儀

  Fischer DualScope DMP20雙功能涂層測(cè)厚儀 穩(wěn)健性、易操作性和數(shù)據(jù)導(dǎo)出方面樹(shù)立了新標(biāo)準(zhǔn)，從而使我們生產(chǎn)中的日常質(zhì)量控制更加容易。

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  涂層測(cè)厚儀fischer代理isoscope fmp10

  涂層測(cè)厚儀fischer代理isoscope fmp10，fischer涂層測(cè)厚儀，篤摯儀器現(xiàn)貨供應(yīng)，產(chǎn)品質(zhì)量?jī)?yōu)。

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  Fischer Deltascope FMP10涂層測(cè)厚儀

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  Fischer庫(kù)倫法測(cè)厚儀|Fischer代理

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  fischer電導(dǎo)率測(cè)試儀Sigmascope SMP350

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  鐵素體含量檢測(cè)儀feritscope FMP30|菲希爾

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  fischer涂層測(cè)厚儀isoscope fmp10

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  Fischer測(cè)厚儀代理V1FGA1HR34磁感應(yīng)探頭

  Fischer測(cè)厚儀代理V1FGA1HR34磁感應(yīng)探頭：貨號(hào)604-183。帶微處理芯片智慧型插拔式磁感應(yīng)探頭。特殊的探頭用于測(cè)量直徑大于7mm的軸套或管子內(nèi)部。手柄到測(cè)量元件的長(zhǎng)度為100mm，亦即可測(cè)量的*大距離。

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  fischer fmp20+探頭fd10（604-143）測(cè)厚儀

  fischer fmp20+探頭fd10（604-143）測(cè)厚儀 DUALSCOPE FMP20操作簡(jiǎn)便，機(jī)體堅(jiān)固并配有一塊高對(duì)比度彩色顯示屏和一個(gè)USB端口，可以輕松地將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娔X，并通過(guò)便利的FISCHER DataCenter軟件進(jìn)行計(jì)算和儲(chǔ)存。

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  fischer銅厚測(cè)量?jī)x sr-scope rmp30-s

  fischer銅厚測(cè)量?jī)x sr-scope rmp30-s SR-SCOPE RMP30-S 該便攜式設(shè)備采用4點(diǎn)電阻法，十分適合測(cè)量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹(shù)脂等絕緣體隔開(kāi)。SR-SCOPE 的優(yōu)勢(shì)是利用電阻法測(cè)量不會(huì)受到其他層的影響，因此能夠準(zhǔn)確測(cè)定最上層面銅層的厚度。

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  fischer ferritscope-菲希爾鐵素體分析儀

  fischer ferritscope-菲希爾鐵素體分析儀 篤摯儀器代理供應(yīng)*鐵素體分析儀，鐵素體測(cè)試儀，奧氏體和雙相鋼不銹鋼鐵素體分析儀，奧氏體不銹鋼焊縫中δ鐵素體的存在會(huì)影響焊縫的強(qiáng)韌性、耐腐蝕性及焊接性,工程現(xiàn)場(chǎng)的焊接過(guò)程通常借助鐵素體含量測(cè)定儀來(lái)控制δ鐵素體的含量。

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  測(cè)厚儀fischer fmp20+探頭fd10（604-143）

  測(cè)厚儀fischer fmp20+探頭fd10（604-143） FMP20 型儀器是專(zhuān)業(yè)便攜式測(cè)量系統(tǒng)中的入門(mén)級(jí)機(jī)型，是現(xiàn)場(chǎng)檢查和控制測(cè)量的理想選擇。DUALSCOPE FMP20機(jī)型可以測(cè)量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度:可以測(cè)量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度，例如：鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。也可以測(cè)量非鐵磁金屬基。材上涂料、油漆、塑料涂層和陽(yáng)極氧化層的厚度。

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  菲希爾Fischer MP0R測(cè)厚儀*總代理

  菲希爾Fischer MP0R測(cè)厚儀*總代理 篤摯儀器代理供應(yīng)的德國(guó)*菲希爾Fischer MP0R測(cè)厚基于自動(dòng)的基材識(shí)別功能和兩種測(cè)量法的結(jié)合（磁感應(yīng)/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鐵/鋼上的多種涂層進(jìn)行測(cè)量還可以對(duì)非鐵金屬上的涂層進(jìn)行測(cè)量。德國(guó)MPO涂層測(cè)厚儀符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T

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  fischerscope mms pc2電子行業(yè)銅厚測(cè)厚儀

  fischerscope mms pc2電子行業(yè)銅厚測(cè)厚儀 這一插入式模塊采用了微電阻方法，適合于測(cè)量多層板上表面銅鍍層的厚度。尤其是薄的層積板，也是組成多層印刷線(xiàn)路板的起始材料上的銅鍍層，以及帶環(huán)氧間隙層的多層板上銅鍍層的厚度。銅的厚度在0.1至10 µm （0.04 至0.4 mils） 以及5至120 µm （0.2至4.7 mils），不受中間銅層的干擾。

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  鐵素體檢測(cè)儀什么品牌好

  鐵素體檢測(cè)儀什么品牌好 擁有50多年的經(jīng)驗(yàn)，位于德國(guó)Sindelfingen的HelmutFischer GmbH公司在涂鍍層測(cè)厚、材料測(cè)試、硬度測(cè)試、電導(dǎo)率和鐵素體含量測(cè)試、氧化膜致密性和孔隙率測(cè)試方面是處于**地位的專(zhuān)家。憑借廣泛的經(jīng)驗(yàn)，與工業(yè)和研究部門(mén)的密切合作，可以為客戶(hù)的特定項(xiàng)目提供理想的解決方案。

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  無(wú)損鍍銀測(cè)厚儀 fischer x-ray xdl 230

  無(wú)損鍍銀測(cè)厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線(xiàn)熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法，可用來(lái)定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。無(wú)論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。

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  新一代德國(guó)Fischer測(cè)厚儀MP0問(wèn)世

  新一代德國(guó)Fischer測(cè)厚儀MP0問(wèn)世 德國(guó)菲希爾MP0測(cè)厚儀采用廣受認(rèn)可的Fischer探頭技術(shù)，是一款小巧卻能大大程度上滿(mǎn)足您的測(cè)量需求的儀器。

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  Fischer（菲希爾）庫(kù)倫測(cè)厚儀總代理

  Fischer（菲希爾）庫(kù)倫測(cè)厚儀總代理 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線(xiàn)路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu)

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  德國(guó)Fischer金屬渦流電導(dǎo)率儀

  德國(guó)Fischer金屬渦流電導(dǎo)率儀 一款采用渦流法測(cè)量非鐵金屬或非磁性金屬如鋁，銅和不銹鋼等的電導(dǎo)率的儀器。此外,基于測(cè)量電導(dǎo)率,還可得出關(guān)于硬度和熱處理的材料強(qiáng)度方面的結(jié)論。也可以確定熱損傷和材料疲勞。

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